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測(cè)試與失效分析

Testing and Failure Analysis

納米粒度及Zeta電位分析儀

設(shè)備型號(hào):ZETASIZER NANO-ZS
針對(duì)各類儲(chǔ)能業(yè)務(wù)需求,TIES力圖發(fā)展成為布局全面,面向市場(chǎng),集測(cè)試分析、失效分析、資質(zhì)認(rèn)證、技術(shù)開(kāi)發(fā)、工程放大、智能制造、高價(jià)值信息服務(wù)、高端培訓(xùn)為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

最大粒徑范圍:0.3 nm—10 μm

濃度范圍:0.1 ppm--40%w/v

檢測(cè)角度:175°和12.8°

最小樣品量:12 μL

Zeta電位范圍:無(wú)實(shí)際限制

最大樣品濃度:40% w/v

最高電導(dǎo)率:200 mS/cm

最小樣品量:20 μL

檢測(cè)技術(shù):M3-PALS

分子量范圍(DLS):342--2×107 Da

分子量范圍(SLS):980--2×107 Da


應(yīng)用范圍

新一代Zetasizer Nano 系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀

融合多項(xiàng)專利技術(shù)

粒度范圍極寬:0.3nm--10μm

濃度范圍廣:0.1ppm--40%w/v

高分辨率高靈敏度Zeta電位測(cè)量

特制高性能He-Ne激光器,提供更高的信噪比


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